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仪器简介
差热分析是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。
仪器用途
相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。
主要特点
1. 封闭式陶瓷保温炉体结构，大大提升了信号灵敏度和分辨率，能获得更稳定的基线。
2. 配有进口高频内核控制处理器，运算处理速度更快，控制更加高效。
3. 传感器采用进口材料设计，配备的S型、K型或E型传感器可通过软件任意切换，不同的测试场合可以灵活选择传感器类型，尤其适用于对高分子材料的相变、玻璃化类实验。
4. 相互独立的气氛控制，可以通过软件智能设置，仪器自动切换气路系统，实验效率更高。
5. 设备系统的下位机和上位机同时具有多点温度校正功能，满足不同实验场合的需求，提高了温度测试的准确性。
技术参数
1 | 温度范围 | 室温~1550℃（铂铑合金传感器） |
2 | 量程范围 | 0～±2000μV |
3 | 精确度 | ±0.001μV |
4 | 灵敏度 | 0.001μV |
5 | 升温速率 | 0.1~80℃/min |
6 | 温度精度 | 0.01℃ |
7 | 温度分辨率 | 0.01℃ |
8 | 温度波动 | ±0.01℃ |
9 | 温度重复性 | ±0.1℃ |
10 | 传感器类型 | S型、K型、E型可任意切换(S型标配，K型、E型选配) |
11 | 计时频率 | 16.6Hz |
12 | 实验模式 | FTC、STC模式任意设置 |
13 | 程序控温 | 全阶段12阶控温灵活设置 |
14 | 控温方式 | 升温、恒温、降温 |
15 | 扫描类型 | 升温、降温、等温扫描 |
16 | 扫描次数 | 循环扫描次数可设置高达9999次，且数据自动保存 |
17 | 气氛控制 | 两路气氛可自由设置，仪器自动切换 |
18 | 显示方式 | 24bit色7寸LCD触摸屏显示 |
19 | 数据接口 | 标准USB接口 |
20 | 采样速率 | 1～10Hz可程序设置 |
21 | 仪器校准 | 下位机和上位机同时具有多点温度校正功能 |
22 | 参数标准 | 配有标准物质，用户可自行矫正温度 |
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